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Bonjour,

En microscopie électronique à balayage (MEB), si l'on a affaire à un échantillon isolant, celui-ci est recouvert d'une couche de fibres métalliques afin d'éviter l'effet d'accumulation de charges. Pouvez-vous m'expliquer ce phénomène.

Merci d'avance.

Bonjour,

En microscopie à balayage électronique, on utilise un faisceau d'électrons qui frappent l'échantillon (les électrons primaires). Lors de la collision de ces électrons avec les atomes de l'échantillon, on a émission d'électrons secondaires qui sont ceux qui feront l'image. Donc pour avoir une image, il faut que les électrons primaires puissent entrer dans l'échantillon (profondeur de pénétration) et que les électrons secondaires sortent (profondeur d'échappement). Si on a de trop grande différences entre les deux, par exemple si la profondeur de pénétration est plus grande que la profondeur d’échappement, les électrons s'accumulent et perturbent le faisceau d'électrons.

On a des tensions d'accélération qui annulent ces effets, mais pour un matériau isolant ces tensions d'équilibre sont de l'ordre de quelques kilovolts. Pour un MEB à effet de champs, pas de problème mais pour un MEB classique, les échantillons doivent être métallisé pour diminuer la tension d'équilibre.

Merci je ne savais pas.

Merci beaucoup, cela est plus clair pour moi !!!